- метод атомно-силовой микроскопии
- метод атомно-силовой микроскопии
метад атамна-сілавой мікраскапіі
Русско-белорусский словарь математических, физических и технических терминов. 2013.
метод атомно-силовой микроскопии
Смотреть что такое "метод атомно-силовой микроскопии" в других словарях:
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope) класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом … Википедия
Кантилевер — Для улучшения этой статьи желательно?: Найти и оформить в виде сносок ссылки на авторитетные источники, подтверждающие написанное … Википедия
Ближнепольная оптическая микроскопия — (БОМ) оптическая микроскопия, обеспечивающая разрешение лучшее, чем у обычного оптического микроскопа. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света.… … Википедия
Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ … Википедия
Ближнепольный оптический микроскоп — Ближнепольная оптическая микроскопия оптическая микроскопия, основанная на эффекте присутствия в дальней зоне излучения идентифицируемых следов взаимодействия света с микрообъектом, находящимся в ближнем световом поле, то есть на расстоянии много … Википедия
Особенность-ориентированное позиционирование — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки… … Википедия
Растровый туннельный микроскоп — Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) система образец + игла, к которым приложена разность потенциалов. Электроны из образца туннелируют на иглу, создавая таким образом туннельный ток. Величина этого тока экспоненциально зависит от расстояния… … Википедия
ООСЗМ — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Объектно-ориентированное сканирование — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Особенность-ориентированное сканирование — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда… … Википедия
